徐强研究员

教育经历
1994.09-1999.06,清华大学,材料物理与化学专业,本科
1999.09-2002.06,清华大学材料物理与化学专业,硕士研究生
2003.09-2008.03,荷兰代尔夫特理工大学纳米科学专业,博士研究生

工作经历
2007.02-2010.02,荷兰代尔夫特理工大学,博士后研究员   
2010.02-2011.10,比利时安特卫普大学,博士后研究员
2011.10-2012.09,物质基础研究基金会,高级研究员
2012.01-2019.12,原位电镜技术公司,副总裁
2018.02-2020.08,广州纳境鼎新科技有限公司,总经理
2020.08-2021.12,生物岛实验室,研究员
2022.01至今,广州实验室,研究员
2017.01-2020.12,浙江大学电镜中心,研究员(兼职)
2018.02-2019.09,广州纳境鼎新科技有限公司,创始人(兼职)

研究简介
徐强,荷兰代尔夫特理工大学应用科学 Kavli 纳米研究中心博士,荷兰国家电镜中心博士后,比利时安特卫普大学国家电镜中心博士后。现为珠江领军人才,“美玉十条2.0”精英人才,广州实验室研究员,主要从事高端医疗器械研发,病毒显微和病毒检测研究,电子显微镜成像理论、MEMS传感器以及它们在生物学中的应用。以呼吸疾病为导向,以微纳加工为手段,开发新型分子检测技术,实现病毒快速检测;开发纳米、原子尺度动态观测技术,研究生物大分子相互作用,开发跨尺度、多模态新型显微系统。曾在荷兰联合创立高端科学仪器公司DENSsolutions,把MEMS芯片与电子显微技术结合,构造原子尺度原位电子显微技术,构建原子尺度可视化“反应实验室”并将其产品化。曾在荷兰Delft理工大学和比利时Antwerpen大学进行博后研究,在Science,Nature Communication等国际顶级学术期刊发表论文70篇以上。申请专利十余项。

人才头衔与荣誉奖励
1. 广州市黄埔区精英人才
2. 广东省重大人才项目领军人才

代表性成果
1.Qiang Xu, Meng-Yue Wu, Grégory F. Schneider, Lothar Houben, Sairam K. Malladi, Cees Dekker, Emrah Yucelen, Rafal E. Dunin-Borkowski, and Henny W. Zandbergen. 2013. Controllable Atomic Scale Patterning of Freestanding Monolayer Graphene at Elevated Temperature. ACS Nano. 7 (2),pp 1566–1572

2.Qiang Xu, Henny W. Zandbergen, Dirk Van Dyck. 2011. “Applying an information transmission approach to extract valence electron information from reconstructed exit waves”. Ultramicroscopy. Volume 111, Issue 7,Pages 912-919

3.Jian Yu,  Wentao Yuan, Hangsheng Yang,  Qiang Xu*, Yong Wang*,  Ze Zhang. 2018. “Fast Gas–Solid Reaction Kinetics of Nanoparticles Unveiled by Millisecond In Situ Electron Diffraction at Ambient Pressure”. Angewandte Chemie. V130, Issue 35

4.Chao Zhang, Qiang Xu*, Peter J. Peters, Henny Zandbergen . 2013. “The use of a central beam stop for contrast enhancement in TEM imaging“. Ultramicroscopy. Volume 134,Pages 200-206

5.Qiang Xu, T. Klimczuk, Ton Gortenmulder, Jacob Jansen, M. A. McGuire, R. J. Cava and Henny W. Zandbergen. 2009. “Ab initio structure determination of the novel superconductor Mg10Ir19B16 “. Chem. Mater. pp 2499–2507

6.体外诊断仪及提取装置. 中国. ZL 2020 2 0732916.7. 2021年02月09日. 1/5

7.冷冻芯片、冷冻系统及样品测试系统(团队代持). 中国. ZL 2021 2 0985602.2. 2021年11月09日. 1

8.Method for removing a high definition nanostructure, a partly freestanding layer, a sensor comprising said layer and a method using said sensor    . 荷兰. NL2008412C2. 2013年09月12日. 1